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在電子產品在加工過程中，由于經歷了復雜的加工和元器件物料的大量使用，無論是加工缺陷還是元器件缺陷，都可分為明顯缺陷和潛在缺陷，明顯缺陷指那些導致產品不能正常工作的缺陷，例如短路/斷路而潛在缺陷導致產品暫時可以使用，但在使用中缺陷會很快暴露出來，產品不能正常工作。潛在缺陷則無法用常規檢驗手段發現，而是運用老化的方法來剔除。如果老化方法效果不好，則未被剔除的潛在缺陷將最終在產品運行期間以早期失效（或故障）的形式表現出來，從而導致產品返修率上升，維修成本增加。

老化（Burn in）是指在一定的環境溫度下、較長的時間內對元器件連續施加環境應力，而環境應力篩選（ESS：Environment Stress Screen ）不僅包括高溫應力，還包括其他很多應力，例如溫度循環、隨機振動等，通過電-熱應力的綜合作用來加速元器件內部的各種物理、化學反應過程，促使隱藏于元器件內部的各種潛在缺陷及早暴露，從而達到剔除早期失效產品的目的。